威宇科技测试封装(上海)有限公司
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威宇科技测试封装(上海)有限公司的专利信息
序号 公布号 发明名称 公布日期 摘要
1 CN1603474A 锡铋电镀系统中防止置换反应的方法 2005.04.06 本发明涉集成电路封装领域,具体地说,涉及对管脚电镀时,防止置换反应的方法。在集成电路电镀技术中,Sn
2 CN1511761A 一种包装带打带机的松紧度测量方法及其装置 2004.07.14 本发明提供一种包装带打带机的松紧度测量方法和装置。目前对于打带完成之后,实际的打带松紧度数值是否与参
3 CN1512556A 一种半导体中测试球栅阵列封装芯片的接触器 2004.07.14 本发明提供一种半导体中测试球栅阵列封装芯片的接触器。传统的接触器存在着结构复杂,成本高的问题。本发明
4 CN1512566A 用于倒装焊的基板 2004.07.14 本发明提供一种用于倒装焊的基板。传统的芯片的焊点与基板上的焊盘之间的焊接解决方案中,存在状增加工序,
5 CN1512573A 一种芯片倒装焊封装结构 2004.07.14 本发明涉及一种芯片倒装焊封装结构。传统的封装结构存在着因芯片与基片材料不同,由热膨胀引起的边缘焊点易
6 CN1508864A 一种芯片封装载板 2004.06.30 本发明涉及一种芯片封装载板,适用于塑封球栅阵列的封装形式。传统的载板由于结构设计上原因,切割后留下的
7 CN1508863A 一种新颖的高性能基板结构 2004.06.30 本发明提供一种应用于芯片封装的基板结构。传统的基板由于散热性的问题,不能适应目前的大功率芯片对散热性
8 CN1494136A 一种带有内置散热片的芯片封装结构 2004.05.05 本发明涉及一种带有内置式散热片的芯片封装结构。传统的外置式和内置式散热结构存在着体积大或散热效果差的
9 CN1464540A 一种能提高多芯片封装合格率的封装方法 2003.12.31 本发明提供一种能提高多芯片封装合格率的封装方法。传统的多芯片封装方法存在着合格率低的问题。本发明的多
10 CN1462070A 一种芯片封装结构 2003.12.17 本发明提供一种经改进的芯片封装结构。传统的BGA(球栅格阵列)封装结构由于使用基板为中间体,而基板的
11 CN1462066A 利用焊线技术在芯片上布线的方法 2003.12.17 本发明提供一种利用焊接技术在芯片上布线的方法。传统的BGA(球栅格阵列)封装结构和布线方法使用基板为
12 CN1438684A 一种半导体芯片封装方法及其封装结构 2003.08.27 本发明提供一种半导体芯片封装方法,包括下列步骤:a.制备一基板,在该基板的上表面设置有引线焊盘,在下
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